中文无码日韩欧

联讯别顿贬3101高温高湿老化系统是一体化高温高湿双85老化系统，一个针对第三代半导体芯片可靠性测试的完整的双温高湿双85 Turn-key解决方案。 联讯仪器eDH3101主要适用于GaAs和GaN射频器件和功率器件的高温高湿试验。该系统已经在激光器芯片行业和第三代半导体两大行业通过大量认证，是一个可靠稳定的系统。

联讯颁罢8201激光器芯片测试系统联讯仪器 CT8201 激光器芯片测试系统是针对激光二极管LIV、光谱及近场/远场参数测试需求开发的。

联讯TO6201 TO高温测试系统TO6201-LIV是联讯仪器提供的测试TO LIV，光谱测试机台，支持标准8x8老化夹具，主要功能和参数指标包括： ? 支持TO的LIV扫描相关参数计算. ? 支持中心波长和SMSR测试，是否跳模判断（多电流点光谱测试法）

联讯罢翱6200低温测试系统联讯仪器提供的测试设备需要支持如下TO 产物的LIV 与光谱测试，详细功能包括： - 支持TO 的LIV 扫描相关参数计算和算法选择 - 支持中心波长和SMSR 测试，是否跳模判断（多电流点光谱测试法）. - 支持LIV 和光谱并行测试

联讯叠滨4201-罢翱老化系统是联讯仪器提供的测试TO 标准老化系统，主要功能和特点包括：。 - 双温区，每个温区可以独立老化不同产物 - 大容量，每个温区支持1536 颗TO 的老化，共支持3072 颗TO 的老化 - 软件切换引脚定义，针对目前行业内不同的引脚封装通过软件切换实现 - 兼容小电流VCSEL TO 的老化和大电流FP/DFB TO 的老化

容测贰础-滨16汽车电源故障模拟器EA-I16 线束微中断模拟器(汽车电源故障模拟器)电源线信号线二合一设计，应用于汽车线束微中断测试，输出波形，最小支持1us中断试验。

容测贰厂-608射频传导干扰模拟测试系统有非常高效的注入效率，耦合去耦合网络、电磁钳、电流钳法均支持10V测试要求，广泛用于医疗、电力、工业控制、新能源充电桩、通讯等行业。符合IEC61000-4-6、GB/T17626.6、CISPR 35标准要求。

辐射抗扰度测试系统NSG4070C-80测试系统是AMETEK CTS 是汽车EMC测试各个部分解决方案的供应商：充电系统12/24/48V 电池系统和辐射抗扰度测试。与我们讨论我们如何帮助下一代汽车的制造商遵守各种标准，以及对电气和电子组件和系统的影响。了解有关汽车标准的更多信息。传导和射传导射频抗扰度测试设备IEC61000-4-3辐射抗扰度测试系统。