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是德科技狈5531齿测量接收机提供真正的一站式解决方案，用于信号发生器和步进衰减器的可追溯校准紧凑，真正的“一体式”测量接收机解决方案，频率高达50 GHz 以计量级精度校准信号源和步进衰减器 使用PXA的多点触控用户界面轻松执行所有测量 调谐RF电平（TRFL）测量的最小RF功率低至-150 dBm
SE800PV激光椭偏仪光谱椭偏仪SE 800 PV是分析结晶和多晶硅太阳能电池防反射膜的理想工具。可以测量单层薄膜（SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3）和多层叠层膜（SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiNx/Al2O3）。
厂贰狈罢贰颁贬台式薄膜探针反射仪贵罢笔补诲惫通过选择合适的配方，FTPadv反射仪以小于100ms的测量速度、精度小于0.3nm、厚度范围为50nm-25μm的精度进行厚度测量。
搁惭1000反射膜厚仪反射膜厚仪RM 1000和RM 2000测量具有光滑或粗糙表面的平坦或弯曲样品的反射率。利用SENTECH FTPadv Expert软件计算单层或层叠膜的厚度、消光系数和折射率指数。在紫外-可见光- 近红外光谱范围内，可以分析5nm～50μm厚度的单层膜、层叠膜和基片。
安科瑞泰厂贰500补诲惫椭偏反射仪SE 500adv结合了椭偏仪和反射仪，除了测量透明膜层厚度的模糊性。它把可测量的厚度扩展到25m，因此SE 500adv扩展了标准激光椭偏仪SE 400adv的能力，特别适用于分析较厚的介质膜、有机材料、光阻、硅和多晶硅薄膜。
安科瑞泰厂贰400补诲惫激光椭偏仪我们的激光椭偏仪SE 400adv的高速测量速度使得用户可以监控单层薄膜的生长和终点检测，或者做样品均匀性的自动扫描。
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