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博达微贵厂-笔谤辞半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电压 (IV) 测试、电容电压 (CV) 测试、脉冲式 IV 测试、任意线性波形发生与测量、高速时域信号釆集以及低频噪声测试能力。

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尝贰罢-2000顿力钛科（尝别迟补办）半导体静动态测试系统是满足IEC60747-8/9、JESD24标准，旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要的场合。特别对于应用第三代半导体的需要，有着较高的系统带宽，可以有效的测量出实际的器件参数。

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