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    博达微贵厂-笔谤辞半导体参数测试系统

    博达微贵厂-笔谤辞半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备,在一个系统中实现了电流电压 (IV) 测试、电容电压 (CV) 测试、脉冲式 IV 测试、任意线性波形发生与测量、高速时域信号釆集以及低频噪声测试能力。

    更新日期:2024-01-29型号:访问量:1233
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