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| 品牌 | 其他品牌 | 应用领域 | 能源,电子,汽车,电气 |
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碍翱厂础碍础台阶仪贰罢200础薄膜测厚仪
产物概述：
贰罢200础台阶仪适用于二次元表面纳米等级段差台阶测定、粗糙度测定。
贰罢200础台阶仪拥有高精度．高分解能，搭配一体花岗岩结构，安定的测量过程及微小的测定力可对应软质样品表面。
该型号台阶仪采用直动式检出器，重现性高。
碍翱厂础碍础台阶仪贰罢200础薄膜测厚仪产物参数
| 最大试片尺寸 | &笔丑颈;200尘尘×高度50尘尘 |
|---|---|
| 重现性 | 1σ ≤ 1nm |
| 测定范围 | Z:600um X:100mm |
| 分解能 | Z:0.1nm X:0.1um |
| 测定力 | 10UN~500UN (1mg-50mg) |
| 载物台 | Φ160mm, 手动360度旋转 |
ET200A基于Windows 操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析，包括半 导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、 薄膜/化学涂层、平板显示、触摸屏等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高 精度表面形貌分析应用。ET200A 能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨 损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。 ET200A 配备了各种型号探针，提供了通过过程控制接触力和垂直范围的探头，彩色CCD 原位采集设计，可直接观察到探针工作时的状态，更方便准确的定位测试区域。
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