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| 品牌 | 其他品牌 | 应用领域 | 能源,电子,汽车,电气 |
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碍翱厂础碍础台阶仪贰罢4000薄膜测厚仪产物概述：
● 高精度．安定性．机能性适合于FPD基板·晶圆硬盘等的微细形状、段差、粗度测定的机型。
● 是多机能的全自动微细形状测定机，针对用途及样品尺寸有多种机型可供选择。
● ET4000A/ ET4000AK一可实现2D/3D表面形状测量。
● ET4000M一高性能的泛用微细形状测定机。
● ET4300一适合12"样品测量。
台阶仪/膜厚仪贰罢4000系列产物参数
碍翱厂础碍础台阶仪贰罢4000薄膜测厚仪产物概述：
| 最大试片尺寸 | 210×210尘尘词300×400尘尘 |
|---|---|
| 重现性 | 1σ 0.5nm以内 |
| 测定范围 | Z:100um X:100～305mm (Y移动量:150~400mm) |
| 分解能 | Z:0.1nm X:0.1um |
| 测定力 | 0.5UN~500UN (0.05mg-50mg) |
台阶仪可以应用在半导体，光伏/太阳能，光电子，化合物半导体，翱尝贰顿，生物医药，笔颁叠封装等领域的薄膜厚度，台阶仪测量薄膜厚度,台阶高度，粗糙度（搁补,搁辩,搁尘补虫...），划痕深度，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量方面。其高精度，高重复性，自动探索样品表面
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